Amptek Inc. 成立于 1977 年，總部位于美國(guó)馬薩諸塞州，是一家專注于高性能 X射線和伽馬射線探測(cè)器、脈沖處理電子設(shè)備及光譜分析系統(tǒng)的領(lǐng)先制造商。Amptek 以其創(chuàng)新的 硅漂移探測(cè)器（SDD）、 CdTe/CZT 半導(dǎo)體探測(cè)器 和微型 X 射線熒光（XRF）系統(tǒng)聞名，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于 材料分析、核安全、醫(yī)療成像、太空探測(cè)及工業(yè)檢測(cè) 等領(lǐng)域。Amptek 于 2014 年被 日本濱松光子（Hamamatsu Photonics） 收購(gòu)，但仍保持獨(dú)立品牌運(yùn)營(yíng)，持續(xù)推動(dòng)高分辨率能譜探測(cè)技術(shù)的發(fā)展。

X-123 系列 是基于 硅漂移探測(cè)器（SDD） 或 CdTe/CZT 探測(cè)器 的緊湊型 X 射線能譜儀，集成高性能數(shù)字脈沖處理器，適用于實(shí)驗(yàn)室和便攜式應(yīng)用。

1. X-123 Fast SDD

探測(cè)器類型：硅漂移探測(cè)器（SDD）

能量分辨率：<125 eV @ 5.9 keV (Mn-Kα)

有效面積：25 mm2 或 50 mm2（可選）

制冷方式：電制冷（Peltier），無(wú)需液氮

應(yīng)用：快速 XRF 分析、元素成分檢測(cè)

2. X-123 CdTe

探測(cè)器類型：碲化鎘（CdTe）半導(dǎo)體

能量范圍：5–150 keV（適合高能 X 射線和伽馬射線）

能量分辨率：<200 eV @ 5.9 keV

特點(diǎn)：室溫工作，適用于高能譜分析（如核材料檢測(cè)）

3. X-123 CZT

探測(cè)器類型：碲鋅鎘（CZT）半導(dǎo)體

能量范圍：10–500 keV

特點(diǎn)：高靈敏度，用于伽馬射線能譜測(cè)量（如放射性同位素識(shí)別）

4. X-123 Complete

全集成系統(tǒng)：包含探測(cè)器、數(shù)字脈沖處理器（DP5）及軟件

通信接口：USB 或 Wi-Fi（可選）

配套軟件：DPPMCA（實(shí)時(shí)能譜分析）

5. 可選配件

X-Ray 源：微型 X 射線管（可選配靶材：Ag、Mo 等）

準(zhǔn)直器：優(yōu)化光束聚焦

樣品臺(tái)：自動(dòng)化樣品定位系統(tǒng)

典型應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：合金成分分析、鍍層厚度測(cè)量

環(huán)境監(jiān)測(cè)：土壤重金屬檢測(cè)

安全篩查：爆炸物或毒品識(shí)別

太空探測(cè)：衛(wèi)星搭載的 X 射線光譜儀

其他注意事項(xiàng)：

更詳細(xì)的技術(shù)資料需通過(guò)提供項(xiàng)目詳情獲取，歡迎咨詢。

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