品介紹&pic=http://www.e3i5w.cn/upload/images/site/20240521/17162563772507049.png)
Bruker Corporation（布魯克公司）是全球領(lǐng)先的科學(xué)儀器制造商，成立于1960年，總部位于美國馬薩諸塞州比勒瑞卡（Billerica）。公司專注于 高端分析儀器 的研發(fā)與生產(chǎn)，產(chǎn)品覆蓋 納米技術(shù)、生命科學(xué)、材料研究和工業(yè)應(yīng)用 領(lǐng)域，尤其在 原子力顯微鏡（AFM） 和 探針技術(shù) 方面處于行業(yè)領(lǐng)先地位。
原子力顯微鏡（AFM）
高分辨率表面形貌與物性測(cè)量
生物AFM、電學(xué)AFM、納米力學(xué)AFM
探針技術(shù)
高性能AFM探針（如 RTESPA-300）
專用探針（導(dǎo)電、磁性、生物兼容等）
納米表征系統(tǒng)
與光學(xué)顯微鏡、拉曼光譜聯(lián)用
RTESPA-300 是 Bruker 旗下的一款 高頻輕敲模式AFM探針，專為 高分辨率成像 設(shè)計(jì)，適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體和生物樣品的高精度表面形貌分析。
| 型號(hào) | 針尖半徑 | 共振頻率 | 彈性系數(shù) | 典型應(yīng)用 |
|---|---|---|---|---|
| RTESPA-300 | <8 nm | 300 kHz | 40 N/m | 高分辨形貌成像（半導(dǎo)體、二維材料） |
| RTESPA-300-30 | <8 nm | 300 kHz | 30 N/m | 軟材料成像（聚合物、生物樣品） |
| RTESPA-300-50 | <8 nm | 300 kHz | 50 N/m | 硬材料成像（金屬、陶瓷） |
| RTESPA-300-CB | <8 nm | 300 kHz | 40 N/m | 導(dǎo)電AFM（C-AFM）測(cè)量 |
超尖銳針尖：針尖半徑 <8 nm，可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率成像。
高頻輕敲模式：共振頻率 300 kHz，減少噪聲干擾，提高掃描速度。
高彈性系數(shù)：40 N/m（標(biāo)準(zhǔn)版），適用于大多數(shù)樣品。
可選導(dǎo)電涂層（RTESPA-300-CB）：用于 導(dǎo)電AFM（C-AFM） 和 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）。
Dimension Icon / FastScan AFM（Bruker 高端AFM）
MultiMode 8 / NanoScope V（常規(guī)AFM系統(tǒng)）
BioAFM（生物樣品兼容）
半導(dǎo)體行業(yè)
硅片表面缺陷檢測(cè)
光刻膠形貌分析
材料科學(xué)
石墨烯、MoS? 等二維材料層數(shù)識(shí)別
納米顆粒、薄膜粗糙度測(cè)量
生物研究
蛋白質(zhì)、DNA 高分辨成像（需搭配軟懸臂版本）
| 探針型號(hào) | 特點(diǎn) | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|
| SCANASYST-AIR | 標(biāo)準(zhǔn)輕敲模式探針，k=0.4 N/m | 常規(guī)形貌成像 |
| PFQNE-AL | PeakForce QNM? 納米力學(xué)探針 | 彈性模量、粘附力測(cè)量 |
| TESPA-V2 | 高頻探針（320 kHz），針尖<10 nm | 超高分辨成像 |
RTESPA-300 是 Bruker 高性能AFM探針 的代表產(chǎn)品，適用于 高分辨、高速掃描 需求。
提供 標(biāo)準(zhǔn)版、軟材料版、硬材料版和導(dǎo)電版，滿足不同實(shí)驗(yàn)需求。
廣泛應(yīng)用于 半導(dǎo)體、納米材料、生物醫(yī)學(xué) 等領(lǐng)域。
（注：N/m = 牛頓每米；kHz = 千赫茲；nm = 納米。）
其他注意事項(xiàng)：
更詳細(xì)的技術(shù)資料需通過提供項(xiàng)目詳情獲取，歡迎咨詢。
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